- 加熱爐設(shè)備
- 晶體及材料
- 破碎/球磨設(shè)備
- 壓片設(shè)備
- 輥壓設(shè)備
- 切割設(shè)備
- 磨拋設(shè)備
- 清洗設(shè)備
- 電池研發(fā)設(shè)備
- 薄膜制備
- 配件
- 其它實驗室設(shè)備
手持式四探針電阻率測試儀
- 型號：
- M-3
- 產(chǎn)品概述：
- M-3手持式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試材料電阻率/方塊電阻的多用途、高性價比測量儀器。廣泛適用于半導(dǎo)體材料廠、科研單位、高等院校四探針法對導(dǎo)體、半導(dǎo)體、類半導(dǎo)體材料的導(dǎo)電性能的測試。
免責(zé)聲明：
本站產(chǎn)品介紹內(nèi)容（包括產(chǎn)品圖片、產(chǎn)品描述、技術(shù)參數(shù)等）僅用于宣傳用途，僅供參考。由于更新不及時和網(wǎng)站不可預(yù)知的BUG可能會造成數(shù)據(jù)與實物的偏差，請勿復(fù)制或者截圖。如果您對參數(shù)有異議，或者想了解產(chǎn)品詳細(xì)信息及更多參數(shù)，請與本公司銷售人員聯(lián)系。本站提供的信息不構(gòu)成任何要約或承諾，請勿將此參數(shù)用于招標(biāo)文件或者合同，科晶公司會不定期完善和修改網(wǎng)站任何信息，恕不另行通知，請您諒解。
如果您需要下載產(chǎn)品的電子版技術(shù)文檔，說明書（在線閱覽），裝箱單，與售后安裝條件等文件，請點擊上方的附件下載模塊中選取。商城產(chǎn)品僅針對大陸地區(qū)客戶，購買前請與工作人員溝通，以免給您帶來不便。
技術(shù)參數(shù)產(chǎn)品視頻實驗案例警示/應(yīng)用提示配件詳情
| 名稱
|
手持式四探針電阻率測試儀-M-3 |
| 產(chǎn)品特征
|
測試儀由M-3型主機和四探針探頭兩部分組成 手持式設(shè)計，帶完善厚度、形狀修正功能，測試精準(zhǔn) 寬量程：超寬五個檔位，相當(dāng)于中檔臺式機的量程 操作簡便、性能穩(wěn)定：輕觸數(shù)字化鍵盤實現(xiàn)參數(shù)設(shè)定、功能轉(zhuǎn)換，LED數(shù)字表頭顯示 多款探頭可選，適用于各種不同材料的導(dǎo)電性能測試
|
| 工作電源
|
208-240V，50/60Hz 電池供電：DC3.7V
|
| 探頭
|
碳化鎢探針探頭（固體材料）：測試硅等半導(dǎo)體、金屬、導(dǎo)電塑料類等硬質(zhì)材料（詳見圖1） 球形或平頭鍍金銅合金探針探頭（薄膜）：可測金屬箔、碳紙等導(dǎo)電薄膜，也可測陶瓷、玻璃或PE膜等基底上導(dǎo)電涂層膜，如金屬鍍膜、噴涂膜、ITO膜、電容卷積膜等材料的薄膜涂層（詳見圖2） 圖1圖2 圖3
|
| 選配
|
可選配快速恒壓四探針測試臺，對測試壓力進(jìn)行調(diào)節(jié)保證恒壓測試，提高測試的精確度 
|
| 測量范圍、分辨率
|
電阻：0.010～50.00kΩ 分辨率：0.001～10 Ω 電阻率：0.010～20.00kΩ-cm 分辨率：0.001～10 Ω-cm 方塊電阻：0.050～100.00kΩ/m2 分辨率0.001～10Ω/m2
|
| 基本誤差
|
±1%FSB±2LSB |
| 外形尺寸
|
210mm L × 100mm W × 36mm H |
| 凈重
|
0.3kg |
| 質(zhì)保期
|
一年保質(zhì)期，終生維護(hù) |
免責(zé)聲明：
本站產(chǎn)品介紹內(nèi)容（包括產(chǎn)品圖片、產(chǎn)品描述、技術(shù)參數(shù)等）僅用于宣傳用途，僅供參考。由于更新不及時和網(wǎng)站不可預(yù)知的BUG可能會造成數(shù)據(jù)與實物的偏差，請勿復(fù)制或者截圖。如果您對參數(shù)有異議，或者想了解產(chǎn)品詳細(xì)信息及更多參數(shù)，請與本公司銷售人員聯(lián)系。本站提供的信息不構(gòu)成任何要約或承諾，請勿將此參數(shù)用于招標(biāo)文件或者合同，科晶公司會不定期完善和修改網(wǎng)站任何信息，恕不另行通知，請您諒解。
如果您需要下載產(chǎn)品的電子版技術(shù)文檔，說明書（在線閱覽），裝箱單，與售后安裝條件等文件，請點擊上方的附件下載模塊中選取。商城產(chǎn)品僅針對大陸地區(qū)客戶，購買前請與工作人員溝通，以免給您帶來不便。
皖公網(wǎng)安備 34012302000974號
查看誠信檔案
